高溫老化試驗(yàn)是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，車(chē)用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等，通過(guò)此測(cè)試程序可檢杳出不良品或不良件，是客戶迅速找出問(wèn)題、解決問(wèn)題提供有效手段，充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)。

所需設(shè)備：高溫老化試驗(yàn)室,高溫老化試驗(yàn)箱，高溫老化房